Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Methodology for the Analysis of Materials, based on the Analysis of Phantoms by Means of X-rays'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
Methodology for the Analysis of Materials, based on the Analysis of Phantoms by Means of X-rays
- Kitty Urbano*
- , Wilver Auccahuasi
- , Sandra Meza
- , Rosalynn Ornella Flores-Castameda
- , Miryam Cosme
- , Percy Castro
*Autor correspondiente de este trabajo
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva